Осциллографические методы измерения параметров полупроводниковых приборов: Учеб. пособие / М-во высш. и средн. спец. образования РСФСР. Моск. ин-т радиотехники, электроники и автоматики. Фак. повышения квалификации

Сохранено в:
Шифр документа: АНД993734,
Вид документа: Книги
Автор: Тихонов, Ю. Н.
Опубликовано: М. , 1977
Физические характеристики: 41 с. : черт.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr32104120000
005 20070704195445.0
010 # # $d 8 к. 
021 # # $a RU  $b [77-74556] 
100 # # $a 20070704d1977 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Осциллографические методы измерения параметров полупроводниковых приборов  $e Учеб. пособие  $f М-во высш. и средн. спец. образования РСФСР. Моск. ин-т радиотехники, электроники и автоматики. Фак. повышения квалификации 
210 # # $a М.  $d 1977 
215 # # $a 41 с.  $c черт. 
300 # # $a Список лит.: с. 39 (10 назв.) 
345 # # $9 300 экз. 
675 # # $a 621.382.08:621.317.75(075.8) 
700 # 1 $a Тихонов  $b Ю. Н. 
701 # 1 $a Белобородова  $b Г. М. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070704  $g psbo