Разработка и исследование метода дифференциальных фотоответных изображений для диагностики дефектов полупроводниковых приборов и интегральных схем: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05 ; 05.27.01) / Ереван. политехн. ин-т

Сохранено в:
Шифр документа: 188749/92,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Степанян, С. Х.
Опубликовано: Ереван , 1992
Физические характеристики: 16 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr31435340000
005 20070629161438.0
100 # # $a 20070629d1992 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a AM 
200 1 # $a Разработка и исследование метода дифференциальных фотоответных изображений для диагностики дефектов полупроводниковых приборов и интегральных схем  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.13.05 ; 05.27.01)  $f Ереван. политехн. ин-т 
210 # # $a Ереван  $d 1992 
215 # # $a 16 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 15-16 (6 назв.) 
686 # # $a 05.13.05  $2 oksvnk 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Степанян  $b С. Х.  $g Степан Хачатурович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070629  $g psbo