Разработка и исследование метода дифференциальных фотоответных изображений для диагностики дефектов полупроводниковых приборов и интегральных схем: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05 ; 05.27.01) / Ереван. политехн. ин-т
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Степанян, С. Х. |
Опубликовано: | Ереван , 1992 |
Физические характеристики: |
16 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr31435340000 | ||
005 | 20070629161438.0 | ||
100 | # | # | $a 20070629d1992 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a AM |
200 | 1 | # | $a Разработка и исследование метода дифференциальных фотоответных изображений для диагностики дефектов полупроводниковых приборов и интегральных схем $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.13.05 ; 05.27.01) $f Ереван. политехн. ин-т |
210 | # | # | $a Ереван $d 1992 |
215 | # | # | $a 16 с. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 15-16 (6 назв.) |
686 | # | # | $a 05.13.05 $2 oksvnk |
686 | # | # | $a 05.27.01 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Степанян $b С. Х. $g Степан Хачатурович |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070629 $g psbo |