Разработка и исследование метода дифференциальных фотоответных изображений для диагностики дефектов полупроводниковых приборов и интегральных схем: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05 ; 05.27.01) / Ереван. политехн. ин-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Степанян, С. Х. |
| Опубликовано: | Ереван , 1992 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||