Пути снижения уровня макронапряжений в диэлектрических пленках SiO2 и Al2O3, полученных ВЧ ионно-плазменным распылением и их применение в микроэлектронных устройствах: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (01.04.10) / Моск. ин-т стали и сплавов

Сохранено в:
Шифр документа: 5612/86СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Собакин, К. М.
Опубликовано: М. , 1985
Физические характеристики: 24 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr31016630000
005 20220126113352.0
100 # # $a 20070619d1985 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Пути снижения уровня макронапряжений в диэлектрических пленках SiO2 и Al2O3, полученных ВЧ ионно-плазменным распылением и их применение в микроэлектронных устройствах  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (01.04.10)  $f Моск. ин-т стали и сплавов 
210 # # $a М.  $d 1985 
215 # # $a 24 с. 
300 # # $a Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Собакин  $b К. М.  $g Константин Михайлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070619  $g psbo