Эллипсометрия тонкопленочных систем на основе полупроводниковых и диэлектрических материалов: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степени д-ра физ.-мат. наук / АН СССР. Сиб. отд-ние. Совет секции общей и прил. физики Объедин. учен. совета по физ.-мат. и техн. наукам

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ240634,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Свиташев, К. К.
Опубликовано: Новосибирск , 1974
Физические характеристики: 47 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr30311820000
005 20070612195029.0
021 # # $a RU  $b [74-14792а] 
100 # # $a 20070612d1974 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Эллипсометрия тонкопленочных систем на основе полупроводниковых и диэлектрических материалов  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени д-ра физ.-мат. наук  $f АН СССР. Сиб. отд-ние. Совет секции общей и прил. физики Объедин. учен. совета по физ.-мат. и техн. наукам 
210 # # $a Новосибирск  $d 1974 
215 # # $a 47 с. 
300 # # $a Список лит.: с. 44-47 (49 назв.) 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Свиташев  $b К. К.  $g Константин Константинович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070612  $g psbo