Эллипсометрия тонкопленочных систем на основе полупроводниковых и диэлектрических материалов: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степени д-ра физ.-мат. наук / АН СССР. Сиб. отд-ние. Совет секции общей и прил. физики Объедин. учен. совета по физ.-мат. и техн. наукам
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Свиташев, К. К. |
| Опубликовано: | Новосибирск , 1974 |
| Физические характеристики: |
47 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||