Исследование и разработка аппаратуры для измерения микрораспределения электрического потенциала в высокоомных полупроводниках: Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук: (05.246) / Каунасский политехн. ин-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Сакалаускас, С. Ю. |
| Опубликовано: | Каунас , 1971 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||