Ионный микроанализатор с двойной фокусировкой и исследование метастабильных кластерных ионов в процессе вторичной ионной эмиссии: (01.04.04): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / АН УзССР, Ин-т электроники им. У. А. Арифова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ротштейн, В. М. |
| Опубликовано: | Ташкент , 1990 |
| Физические характеристики: |
20 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||