Емкостные методы исследования глубоких уровней в полупроводниках / С. Г. Рзаев, С. Н. Рагимов, З. Н. Мамедов

Сохранено в:
Шифр документа: 11286,
Вид документа: Книги
Автор: Рзаев, С. Г.
Опубликовано: Баку , 1984
Физические характеристики: 14 с.
Язык: Русский
Серия: Препринт № 105
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
11286 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:2:5:159:11 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал