Емкостные методы исследования глубоких уровней в полупроводниках / С. Г. Рзаев, С. Н. Рагимов, З. Н. Мамедов
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Рзаев, С. Г. |
Опубликовано: | Баку , 1984 |
Физические характеристики: |
14 с.
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Препринт
№ 105 |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|