Разработка масс-спектрометрического метода послойного анализа полупроводниковых пленок: (298): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / АН СССР. Ин-т геохимии и аналит. химии им. В. И. Вернадского

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ150906,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Рамендик, Г. И.
Опубликовано: М. , 1970
Физические характеристики: 20 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr29221330000
005 20070604163042.0
021 # # $a RU  $b [70-11608а] 
100 # # $a 20070604d1970 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Разработка масс-спектрометрического метода послойного анализа полупроводниковых пленок  $e (298)  $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук  $f АН СССР. Ин-т геохимии и аналит. химии им. В. И. Вернадского 
210 # # $a М.  $d 1970 
215 # # $a 20 с.  $c граф. 
300 # # $a Список работ авт.: с. 20 (11 назв.) 
686 # # $a 298  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Рамендик  $b Г. И. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070604  $g psbo