Автоматизированные методы верификации структуры и анализа тестов цифровых микропроцессорных устройств: (05.13.12): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук / Ленингр. ин-т точ. механики и оптики
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Раков, С. В. |
| Опубликовано: | Л. , 1991 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||