Методы измерения параметров полупроводников : Курс лекций. [В 3-х ч.] / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедры материаловедения полупроводников. Неравновесные процессы

Сохранено в:
Шифр документа: АН804702, АУ458872,
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1973
Физические характеристики: 128 с. : черт.
Язык: Русский
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АН804702 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:1:5:159 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
АУ458872 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:2:3:95 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал