Вторично-ионный анализ материалов и структур электронной техники с управлением газовой средой в зоне анализа: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (05.27.02) / Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина)

Сохранено в:
Шифр документа: 134578/91СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Попов, В. Ф.
Опубликовано: Л. , 1991
Физические характеристики: 27 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr28683320000
005 20070529182406.0
100 # # $a 20070529d1991 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Вторично-ионный анализ материалов и структур электронной техники с управлением газовой средой в зоне анализа  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук  $e (05.27.02)  $f Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина) 
210 # # $a Л.  $d 1991 
215 # # $a 27 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 24-27 (41 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.27.02  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Попов  $b В. Ф.  $g Владимир Федорович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070529  $g psbo