Исследование сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии и его применение для контроля толстостенных сварных соединений: Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Томский политехн. ин-т им. С. М. Кирова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Покровский, А. З. |
| Опубликовано: | Томск , 1967 |
| Физические характеристики: |
19 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr28490700000 | ||
| 005 | 20070529170448.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [68-4426] |
| 100 | # | # | $a 20070529d1967 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии и его применение для контроля толстостенных сварных соединений $e Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук $f Томский политехн. ин-т им. С. М. Кирова |
| 210 | # | # | $a Томск $d 1967 |
| 215 | # | # | $a 19 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 18-19 (17 назв) |
| 700 | # | 1 | $a Покровский $b А. З. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070529 $g psbo |