Исследование сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии и его применение для контроля толстостенных сварных соединений: Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Томский политехн. ин-т им. С. М. Кирова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Покровский, А. З. |
| Опубликовано: | Томск , 1967 |
| Физические характеристики: |
19 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||