Разработка метода количественного рентгеноспектрального микроанализа тонких пленок в электронном микроскопе: (02.00.02): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Пожгаи, И. |
Опубликовано: | М. , 1980 |
Физические характеристики: |
25 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr28466250000 | ||
005 | 20070529145137.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [80-5286а] |
100 | # | # | $a 20070529d1980 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Разработка метода количественного рентгеноспектрального микроанализа тонких пленок в электронном микроскопе $e (02.00.02) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук |
210 | # | # | $a М. $d 1980 |
215 | # | # | $a 25 с. $c граф. |
300 | # | # | $a В надзаг.: АН СССР, Ин-т геохим. и аналит. химии им. В. И. Вернадского. Библиогр.: с. 24-25 (11 назв.) |
686 | # | # | $a 02.00.02 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Пожгаи $b И. $g Имре |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070529 $g psbo |