Разработка метода количественного рентгеноспектрального микроанализа тонких пленок в электронном микроскопе: (02.00.02): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Пожгаи, И. |
| Опубликовано: | М. , 1980 |
| Физические характеристики: |
25 с. : граф.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||