Образование точечных ассоциированных дефектов в Si<P, O, Cu>, Si<P, O, Ag>, Si<P, O, Au>, Si<B, Fe> при распаде твердых растворов и γ-облучении: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ452211,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Погарский, М. А.
Опубликовано: Л. , 1953
Физические характеристики: 12 с.
Язык: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АЯ452211 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:63 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал