Физические основы, методы и средства контроля процессов образования полупроводниковых и диэлектрических структур: Тез. докл. / III межвед. совещ. по метрике полупроводников, г. Саратов, 26-28 окт. 1978 г.

Сохранено в:
Шифр документа: МД44812,
Вид документа: Книги
Опубликовано: Саратов : [Б. и.] , 1978
Физические характеристики: 89 с. ; 20 см
Язык: Русский
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr27866400000
005 20071221124630.0
010 # # $d Б. ц. 
021 # # $a RU  $b [78-89709] 
100 # # $a 20071221d1978 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Физические основы, методы и средства контроля процессов образования полупроводниковых и диэлектрических структур  $e Тез. докл.  $f III межвед. совещ. по метрике полупроводников, г. Саратов, 26-28 окт. 1978 г. 
210 # # $a Саратов  $c [Б. и.]  $d 1978 
215 # # $a 89 с.  $d 20 см 
300 # # $a В надзаг.: Сарат. обл. правл. НТО РЭС им. А. С. Попова, Сарат. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского, Сарат. обл. дом техники НТО 
345 # # $9 250 экз. 
610 0 # $a Полупроводники - Получение - Тезисы докладов 
610 0 # $a Пленки тонкие - Получение - Тезисы докладов 
675 # # $a 621.315.592.002(063) 
711 0 2 $a Межведомственное совещание по метрике полупроводников, 3-е. Саратов. 1978 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071221  $g psbo