Физические методы контроля материалов без разрушения. Физические методы измерения толщины тонких пленок. Приборы для измерения толщины покрытий и стенок, основанные на изменении сопротивления магнитной цепи] / К. И. Тарасов / [Ю. Н. Бадлевский, Н. М. Шаруненко
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | 1962 |
| Физические характеристики: |
[1], 33 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Передовой науч.-техн. и производ. опыт
Тема 14. № М-62-60/2 |
| Предмет: |
Загрузка