Физические методы контроля материалов без разрушения. Физические методы измерения толщины тонких пленок. Приборы для измерения толщины покрытий и стенок, основанные на изменении сопротивления магнитной цепи] / К. И. Тарасов / [Ю. Н. Бадлевский, Н. М. Шаруненко

Сохранено в:
Шифр документа: АУД114241СК,
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1962
Физические характеристики: [1], 33 с. : черт.
Язык: Русский
Серия: Передовой науч.-техн. и производ. опыт Тема 14. № М-62-60/2
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АУД114241СК ОФХ отдела книгохранения (039) 11:2:2:38 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал