Прямые методы исследования дефектов в кристаллах: [Сборник статей] / Пер. с англ. О. Н. Ефимова [и др.]. Под ред. А. М. Елистратова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | М. : Мир , 1965 |
| Физические характеристики: |
351 с. : илл. ; 22 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||