|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr25192150000 |
005 |
20071203122843.0 |
010 |
# |
# |
$d 10 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [77-93346]
|
100 |
# |
# |
$a 20071203d1977 y0rusy50 ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов
$e Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методом контроля качества пром. изделий
|
210 |
# |
# |
$a М.
$c Знание
$d 1977-
|
215 |
# |
# |
$d 19 см
|
300 |
# |
# |
$a В надзаг. также: Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР, Всесоюз. совет науч.-техн. о-в. Вып. 2 / В. В. Ведерников, Н. Н. Горюнов, А. А. Чернышев; Под науч. ред. д-ра техн. наук, проф. Б. Е. Бердичевского.-1977.-44 с.: ил. - Загл. вып. 1: Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях. - Список лит.: с. 43 (10 назв.)
|
345 |
# |
# |
$9 1750 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Полупроводниковые приборы - Надежность - Сборники
|
675 |
# |
# |
$a 621.382.019.3(063)
|
701 |
# |
1 |
$a Ведерников
$b В. В.
$g Валерий Владимирович
|
711 |
0 |
2 |
$a Политехнический музей. Москва
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071203
$g psbo
|