Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов: Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методом контроля качества пром. изделий

Сохранено в:
Шифр документа: АУД558391, МД2164,
Вид документа: Книги
Опубликовано: М. : Знание , 1977-
Физические характеристики: ; 19 см
Язык: Русский
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr25192150000
005 20071203122843.0
010 # # $d 10 к. 
021 # # $a RU  $b [77-93346] 
100 # # $a 20071203d1977 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов  $e Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методом контроля качества пром. изделий 
210 # # $a М.  $c Знание  $d 1977- 
215 # # $d 19 см 
300 # # $a В надзаг. также: Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР, Всесоюз. совет науч.-техн. о-в. Вып. 2 / В. В. Ведерников, Н. Н. Горюнов, А. А. Чернышев; Под науч. ред. д-ра техн. наук, проф. Б. Е. Бердичевского.-1977.-44 с.: ил. - Загл. вып. 1: Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях. - Список лит.: с. 43 (10 назв.) 
345 # # $9 1750 экз. 
610 0 # $a Полупроводниковые приборы - Надежность - Сборники 
675 # # $a 621.382.019.3(063) 
701 # 1 $a Ведерников  $b В. В.  $g Валерий Владимирович 
711 0 2 $a Политехнический музей. Москва 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071203  $g psbo