Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов: Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методом контроля качества пром. изделий
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | М. : Знание , 1977- |
| Физические характеристики: |
; 19 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||