Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях : (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества пром. продукции) / В. В. Ведерников, Н. Н. Горюнов, Э. Г. Павлович, А. А. Чернышев. Вып. 1

Сохранено в:
Шифр документа: АУД558474, МД1349,
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1977
Физические характеристики: 52 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
00000nam2a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr25192140002
005 20071203122843.0
010 # # $d 10 к. 
021 # # $a RU  $b [77-91671] 
100 # # $a 20071203d1977 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
200 0 # $a Вып. 1 
210 # # $d 1977 
215 # # $a 52 с.  $c ил. 
300 # # $a Список лит.: с. 50-51 (19 назв.) 
345 # # $9 1750 экз. 
461 # 0 $1 001BY-NLB-rr25192140000  $1 2000   $v Вып. 1 
610 0 # $a Полупроводниковые приборы - Надежность 
610 0 # $a Летательные аппараты - Радиооборудование - Надежность 
675 # # $a 629.73.052.3:621.382.019.3 
701 # 1 $a Ведерников  $b В. В.  $g Валерий Владимирович 
702 # 1 $a Бердичевский  $b Б. Е.  $g Борис Ефимович  $4 340 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071203  $g psbo 
830 # # $a АУД558474;МД1349;