Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях : (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества пром. продукции) / В. В. Ведерников, Н. Н. Горюнов, Э. Г. Павлович, А. А. Чернышев. Вып. 1
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | 1977 |
| Физические характеристики: |
52 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||