Послойный анализ структурного совершенства приповерхностных слоев монокристаллов методом асимптотической брэгговской дифракции / А. М. Афанасьев, П. А. Александров, С. С. Фанченко и др.

Сохранено в:
Шифр документа: 57632,
Вид документа: Книги
Опубликовано: М. , 1985
Физические характеристики: 16 с.
Язык: Русский
Серия: Ин-т атом. энергии им. И. В. Курчатова ИАЭ-4073/9
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr24888710000
005 20140214125500.5
010 # # $d 10 к. 
021 # # $a RU  $b [85-9785] 
100 # # $a 20071203d1985 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Послойный анализ структурного совершенства приповерхностных слоев монокристаллов методом асимптотической брэгговской дифракции  $f А. М. Афанасьев, П. А. Александров, С. С. Фанченко и др. 
210 # # $a М.  $d 1985 
215 # # $a 16 с. 
225 2 # $a Ин-т атом. энергии им. И. В. Курчатова  $v ИАЭ-4073/9 
300 # # $a Библиогр.: с. 15-16 (7 назв.) 
345 # # $9 198 экз. 
610 0 # $a Дифрактометры 
610 0 # $a Монокристаллы - Структура 
675 # # $a 539.26 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071203  $g psbo