Послойный анализ структурного совершенства приповерхностных слоев монокристаллов методом асимптотической брэгговской дифракции / А. М. Афанасьев, П. А. Александров, С. С. Фанченко и др.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | М. , 1985 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Ин-т атом. энергии им. И. В. Курчатова
ИАЭ-4073/9 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||