Моделирование на ЭВМ кинетики дефектов в кристаллах: Темат. сб. / АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе

Сохранено в:
Шифр документа: 141591,
Вид документа: Книги
Опубликовано: Л. , 1985
Физические характеристики: 209 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr23318650000
005 20170302093849.0
010 # # $d 1 р. 
100 # # $a 20071112d1985 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Моделирование на ЭВМ кинетики дефектов в кристаллах  $e Темат. сб.  $f АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе 
210 # # $a Л.  $d 1985 
215 # # $a 209 с. 
300 # # $a Библиогр. в конце статей 
345 # # $9 500 экз. 
675 # # $a 548.4:681.3.001.57 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071112  $g psbo