Моделирование на ЭВМ кинетики дефектов в кристаллах: Темат. сб. / АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | Л. , 1985 |
Физические характеристики: |
209 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|