Метрология, стандартизация и измерительная техника: Раздел : Контроль качества изделий микроэлектроники : Курс лекций для студентов специальности 20.03 / Московский ин-т стали и сплавов, Кафедра полупроводниковой электроники и физики полупроводников
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Москва , 1989 |
| Физические характеристики: |
69 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||