Качество и надежность изделий : [Сб. ст.] / Всесоюз. о-во "Знание", Политехн. музей [и др.]. № 6 (12) : Ускоренные испытания элементов и систем / Г. Д. Карташов. Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем / И. Т. Алексанян
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | 1990 |
| Физические характеристики: |
91 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||