Исследование реальной структуры кристаллов с использованием синхротронного излучения / И. П. Карабеков, Д. Л. Егикян, Р. А. Микаэлян и др.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Ереван , 1980 |
| Физические характеристики: |
13 с.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Препринт
ЕФИ-394/1/-80 |
| 00000nam0a22000001ib4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr21887440000 | ||
| 005 | 20071005153125.0 | ||
| 010 | # | # | $d [Б. ц.] |
| 100 | # | # | $a 20071005d1980 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a AM |
| 200 | 1 | # | $a Исследование реальной структуры кристаллов с использованием синхротронного излучения $f И. П. Карабеков, Д. Л. Егикян, Р. А. Микаэлян и др. |
| 210 | # | # | $a Ереван $d 1980 |
| 215 | # | # | $a 13 с. |
| 225 | 2 | # | $a Препринт $f Ерев. физ. ин-т $v ЕФИ-394/1/-80 |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 13 (13 назв.) |
| 345 | # | # | $9 299 экз. |
| 675 | # | # | $a 548.73 |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071005 $g psbo |