Исследование реальной структуры кристаллов с использованием синхротронного излучения / И. П. Карабеков, Д. Л. Егикян, Р. А. Микаэлян и др.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Ереван , 1980 |
| Физические характеристики: |
13 с.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Препринт
ЕФИ-394/1/-80 |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||