|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr21296810000 |
| 005 |
20071009113533.0 |
| 010 |
# |
# |
$d Б. ц.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [73-40865]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20071009d1973 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Дифференциальный метод оптического анализа микронеоднородностей в полупроводниках
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$d 1973
|
| 215 |
# |
# |
$a 20 с.
$c черт.
|
| 225 |
2 |
# |
$a Препринт
$f АН СССР. Ин-т радиотехники и электроники
$v № 19 (131)
|
| 300 |
# |
# |
$a Список лит.: с. 19-20 (39 назв.). Перед загл. авт.: В. И. Ковалев, М. И. Елинсон, Ю. Т. Захаров, Ю. Ф. Огрин
|
| 345 |
# |
# |
$9 110 экз.
|
| 675 |
# |
# |
$a 537.311.33
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071009
$g psbo
|
