Дифференциальный метод оптического анализа микронеоднородностей в полупроводниках
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | М. , 1973 |
| Физические характеристики: |
20 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Препринт
№ 19 (131) |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||