Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / [Сих М. П., Бриггс Д., Ривьер Дж. К. и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | М. : Мир , 1987 |
| Физические характеристики: |
598 с. : ил. ; 22 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||