Контроль электрофизических параметров эпитаксиальных структур на основе кремния и гетеросистемы ZnSe-GaAs: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (01.04.07) / АН СССР, Физ.-техн. ин-т Урал. отд-ния

Сохранено в:
Шифр документа: 102835/90СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Ярцев, М. П.
Опубликовано: Ижевск , 1990
Физические характеристики: 22 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr19891590000
005 20070521141142.0
100 # # $a 20070521d1990 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Контроль электрофизических параметров эпитаксиальных структур на основе кремния и гетеросистемы ZnSe-GaAs  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (01.04.07)  $f АН СССР, Физ.-техн. ин-т Урал. отд-ния 
210 # # $a Ижевск  $d 1990 
215 # # $a 22 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 19-22 (19 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Ярцев  $b М. П.  $g Михаил Павлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070521  $g psbo