Внутреннее трение, обусловленное дефектами в бинарных полупроводниках: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: (01.04.07) / Воронеж. политехн. ин-т

Сохранено в:
Шифр документа: 159683/92СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Ярославцев, Н. П.
Опубликовано: Воронеж , 1992
Физические характеристики: 31 с.
Язык: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
159683/92СК ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:72 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал