Фотоэлектрический метод определения механических дефектов неэкспонированной кинопленки: Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата техн. наук / М-во культуры СССР. Ленингр. ин-т киноинженеров
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Штаркер, А. Я. |
| Опубликовано: | Л. , 1953 |
| Физические характеристики: |
8 с. ; 20 см
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr19302890000 | ||
| 005 | 20070517173418.0 | ||
| 010 | # | # | $d Б. ц. |
| 021 | # | # | $a RU $b [54-14956] |
| 100 | # | # | $a 20070517d1953 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Фотоэлектрический метод определения механических дефектов неэкспонированной кинопленки $e Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата техн. наук $f М-во культуры СССР. Ленингр. ин-т киноинженеров |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1953 |
| 215 | # | # | $a 8 с. $d 20 см |
| 345 | # | # | $9 100 экз. |
| 700 | # | 1 | $a Штаркер $b А. Я. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070517 $g psbo |