Фотоэлектрический метод определения механических дефектов неэкспонированной кинопленки: Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата техн. наук / М-во культуры СССР. Ленингр. ин-т киноинженеров
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Штаркер, А. Я. |
| Опубликовано: | Л. , 1953 |
| Физические характеристики: |
8 с. ; 20 см
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||