Усовершенствование и развитие рентгеновских методов определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллов с применением электронно-вычислительных машин: Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шишлянникова, Л. М. |
| Опубликовано: | М. , 1978 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr19157250000 | ||
| 005 | 20070514171815.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070514d1978 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Усовершенствование и развитие рентгеновских методов определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллов с применением электронно-вычислительных машин $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук $e (01.04.07) |
| 210 | # | # | $a М. $d 1978 |
| 215 | # | # | $a 22 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: ЦНИИ черной металлургии им. И. П. Бардина. Библиогр.: с. 22 (6 назв.) |
| 686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Шишлянникова $b Л. М. $g Лидия Михайловна |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070514 $g psbo |