Усовершенствование и развитие рентгеновских методов определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллов с применением электронно-вычислительных машин: Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шишлянникова, Л. М. |
| Опубликовано: | М. , 1978 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||