Исследование и разработка оптических систем для автоматизированного контроля дефектов внешнего вида изделий микроэлектроники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.11.07) / Ленингр. ин-т точ. механики и оптики

Сохранено в:
Шифр документа: 13049/86СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Широков, А. К.
Опубликовано: Л. , 1986
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr19111680000
005 20070514171449.0
100 # # $a 20070514d1986 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование и разработка оптических систем для автоматизированного контроля дефектов внешнего вида изделий микроэлектроники  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.11.07)  $f Ленингр. ин-т точ. механики и оптики 
210 # # $a Л.  $d 1986 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 19-20 (6 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.11.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Широков  $b А. К.  $g Александр Константинович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070514  $g psbo