Исследование особенностей имплантационных профилей методом ионного микроанализа: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Тбил. гос. ун-т
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Шимко, Р. |
Опубликовано: | Тбилиси : Изд-во Тбил. ун-та , 1975 |
Физические характеристики: |
23 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr19087970000 | ||
005 | 20070514170607.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [76-2560а] |
100 | # | # | $a 20070514d1975 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a GE |
200 | 1 | # | $a Исследование особенностей имплантационных профилей методом ионного микроанализа $e (01.04.07) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук $f Тбил. гос. ун-т |
210 | # | # | $a Тбилиси $c Изд-во Тбил. ун-та $d 1975 |
215 | # | # | $a 23 с. |
300 | # | # | $a Список лит.: с. 23 (10 назв.) |
686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Шимко $b Р. $g Рихард |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070514 $g psbo |