Исследование особенностей имплантационных профилей методом ионного микроанализа: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Тбил. гос. ун-т

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ285913,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Шимко, Р.
Опубликовано: Тбилиси : Изд-во Тбил. ун-та , 1975
Физические характеристики: 23 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr19087970000
005 20070514170607.0
021 # # $a RU  $b [76-2560а] 
100 # # $a 20070514d1975 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a GE 
200 1 # $a Исследование особенностей имплантационных профилей методом ионного микроанализа  $e (01.04.07)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук  $f Тбил. гос. ун-т 
210 # # $a Тбилиси  $c Изд-во Тбил. ун-та  $d 1975 
215 # # $a 23 с. 
300 # # $a Список лит.: с. 23 (10 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Шимко  $b Р.  $g Рихард 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070514  $g psbo