Исследование особенностей имплантационных профилей методом ионного микроанализа: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Тбил. гос. ун-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шимко, Р. |
| Опубликовано: | Тбилиси : Изд-во Тбил. ун-та , 1975 |
| Физические характеристики: |
23 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||