Исследование влияния технологических факторов на точность измерения толщины покрытий приборами, основанными на методе изменения электромагнитного поля: (К вопросу автоматизации процесса контроля). Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата техн. наук / Ленингр. ин-т точной механики и оптики
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шилов, Г. И. |
| Опубликовано: | Л. , 1965 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr19073970000 | ||
| 005 | 20070515132327.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [65-87592] |
| 100 | # | # | $a 20070515d1965 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование влияния технологических факторов на точность измерения толщины покрытий приборами, основанными на методе изменения электромагнитного поля $e (К вопросу автоматизации процесса контроля). Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата техн. наук $f Ленингр. ин-т точной механики и оптики |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1965 |
| 215 | # | # | $a 16 с. |
| 700 | # | 1 | $a Шилов $b Г. И. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070515 $g psbo |