Исследование влияния технологических факторов на точность измерения толщины покрытий приборами, основанными на методе изменения электромагнитного поля: (К вопросу автоматизации процесса контроля). Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата техн. наук / Ленингр. ин-т точной механики и оптики
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Шилов, Г. И. |
Опубликовано: | Л. , 1965 |
Физические характеристики: |
16 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|