Математико-статистические методы для повышения эффективности контроля и управления качеством производства интегральных микросхем: (05.27.01 ; 05.27.05): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук / Кишин. политехн. ин-т им. С. Лазо

Сохранено в:
Шифр документа: 116350/90,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Шестакова, Т. В.
Опубликовано: Кишинев , 1990
Физические характеристики: 18 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr19032620000
005 20070514165416.0
021 # # $a RU  $b [90-6819а] 
100 # # $a 20070514d1990 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a MD 
200 1 # $a Математико-статистические методы для повышения эффективности контроля и управления качеством производства интегральных микросхем  $e (05.27.01 ; 05.27.05)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $f Кишин. политехн. ин-т им. С. Лазо 
210 # # $a Кишинев  $d 1990 
215 # # $a 18 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 15-18 (24 назв.) 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
686 # # $a 05.27.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Шестакова  $b Т. В.  $g Татьяна Владленовна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070514  $g psbo